产品简介: TESCAN MAGNA是一款功能极其强大的分析仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒,具有超高的分辨率,在低电压下尤为明显;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度,非常适用于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品,以及在半导体光敏样品等。 产品特点 - *的实时电子束追踪技术(In-flight Beam Tracing™)功能,可设置优化束斑尺寸和束流强度。
- *的TriBETM和TriSETM In-Beam探测器系统,实现更*进的纳米尺度表征。
- TESCAN Essence™便利的电镜操作软件。
- 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,如EDS、EBSD、CL、Raman联用。
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