欢迎来上海昊扩科学器材有限公司!我们将为您提供周到的服务!
产品分类

Product classification

首页 > 资料下载 > 测量块体薄膜seebeck 系数和电阻率 热电参数测试系统

测量块体薄膜seebeck 系数和电阻率 热电参数测试系统

点击次数:1247 发布时间:2015/7/8
提 供 商: 上海昊扩科学器材有限公司 资料大小: JPG
图片类型: JPG 下载次数: 299
资料类型: PDF 浏览次数: 1247
相关产品:
详细介绍: 文件下载    图片下载    

   本仪器采用准动态法(具有技术)和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。
仅可用于测量半导体块状样品,康铜、镍、铋等金属半金属样品,石墨、碳材料等非金属样品的
seebeck 系数和电阻率,还可测薄膜(纳米)样品的 seebeck 系数和电阻率。


*优势
拥有独立知识产权,获得多项技术;
?

动态法测量 seebeck 系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确;
?

seebeck 系数和电阻率测量不共用电压探针,避免出现微型热电偶断裂失效的问题;
?

采用双向加热系统;
?

自动断电保护;
?

附有薄膜附件(无需主机,直接使用),可直接测量薄膜材料常温下的 seebeck 系数和电阻率。

Copyright © 2024 版权所有:上海昊扩科学器材有限公司  ICP备案号:沪ICP备20016915号-1  管理登陆  技术支持:化工仪器网   总流量:169044  网站地图

在线客服 联系方式

服务热线

86-021-52261560