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测量块体薄膜seebeck 系数和电阻率 热电参数测试系统

点击次数:563 发布时间:2015/7/8
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   本仪器采用准动态法(具有技术)和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。
仅可用于测量半导体块状样品,康铜、镍、铋等金属半金属样品,石墨、碳材料等非金属样品的
seebeck 系数和电阻率,还可测薄膜(纳米)样品的 seebeck 系数和电阻率。


独特优势
拥有独立知识产权,获得多项技术;
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动态法测量 seebeck 系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确;
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seebeck 系数和电阻率测量不共用电压探针,避免出现微型热电偶断裂失效的问题;
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采用双向加热系统;
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自动断电保护;
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附有薄膜附件(无需主机,直接使用),可直接测量薄膜材料常温下的 seebeck 系数和电阻率。

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