薄膜seebeck 系数和电阻率 - 薄膜热电参数测试系统

本产品采用准动态测量法，可同时测量薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率，测温范围达到
80K~600K。

硬件特点
动态法测量 seebeck 系数，避免了静态法测量在温差测量上面的系统误差，测量更准确

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采用双向加热系统，出现测试坏点，可以重新测试
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seebeck 系数和电阻率测量测量不共用电压探针，避免出现微型热电偶断裂失效的问题
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软件操作简单，智能化可实现手动、自动模式