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薄膜seebeck 系数和电阻率 - 薄膜热电参数测试系统

点击次数:455 发布时间:2015/7/8
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本产品采用准动态测量法,可同时测量薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率,测温范围达到
80K~600K。

硬件特点
动态法测量 seebeck 系数,避免了静态法测量在温差测量上面的系统误差,测量更准确

?

采用双向加热系统,出现测试坏点,可以重新测试
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seebeck 系数和电阻率测量测量不共用电压探针,避免出现微型热电偶断裂失效的问题
?

软件操作简单,智能化可实现手动、自动模式

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