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薄膜无损检测 相变温度和热膨胀系数-光功率热分析仪(OPA)

点击次数:361 发布时间:2015/7/8
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    本仪器为无损检测,并可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数。OPA 的研发成功,一举填补
了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的性技术空白, 能测量低至5nm的薄膜材料。
本仪器拥有多项发明,具有独立知识产权。

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