薄膜无损检测 相变温度和热膨胀系数-光功率热分析仪（OPA）

    本仪器为无损检测，并可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数。OPA 的研发成功，一举*补
了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的性技术空白， 能测量低至5nm的薄膜材料。
本仪器拥有多项发明，具有独立知识产权。