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本仪器为无损检测,并可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数。OPA 的研发成功,一举*补了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的性技术空白, 能测量低至5nm的薄膜材料。本仪器拥有多项发明,具有独立知识产权。
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