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微-纳米薄膜热导率测量-薄膜热导率测试系统(TCT)

点击次数:405 发布时间:2015/7/8
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   本仪器采用 3ω测试方法, 利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。
主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量,可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开
发,其涵盖范围包括高等院校及科研院所、集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、
信息存储与光电器件。

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