热膨胀系数分析仪（TEA ） 独特优势 可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发及质量检验 自主知识产权产品，拥有多项技术
基于光干涉原理的创新技术 采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制
非接触式无损检测，测试精度高 具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力
测试原理 基于光干涉原理，测量透明材料及非透明材料的热膨胀系数。 
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面，产生反射光，同时投射光照射到下表面也产生 一束反射光，两束反射光在光电探测器处发生干涉，反射光功率发生周期性变化，得到光功率随材料温度的变化曲线，通过计算得到热膨胀系数。
技术参数
型号 TEA-300 TEA-1200 TEA-1800 温度范围 RT~300 ℃ RT~1200 ℃ RT~1800 ℃ 程序升温重复性偏差 ＜1.0% 程序升温速率偏差 ＜10.0% 热膨胀系数测量精密度偏差 ＜4.5% 热膨胀系数测量正确度偏差 ＜±15% zui大工作功率 4.0KW zui大升温速度 3000 ℃/min (50℃~1800℃，真空氛围) 2700 ℃/min (50℃~1800℃，N 2 氛围) 温场*性 ± 2.0 ℃（1800℃，真空） ± 4.5 ℃（1800℃，N 2 ） 制冷要求 水冷 极限真空 50Pa 10Pa 1Pa 热膨胀薄膜材料检测厚度下限 266nm 热膨胀分析绝对量值 5.0×10 -10 m
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