薄膜磁性测试系统（TMT ）薄膜检测

薄膜磁性测试系统（TMT ）

产品优势
 目前功能zui强、软件自动化程度zui高的国产磁性测试系统，已在国内多家高校和科研院所及磁
性材料生产企业中应用；

 采用进口数字锁相放大器 SR810、高斯计采集磁矩和磁场数据，在国内率先采用振动头交流恒
流驱动技术，大大提高了仪器测量精度和稳定性；

 软件功能全面，放置好样品后全部测量及控制参数（如锁相放大器的时间常数、相移、灵敏度，扫描磁场的幅值与周期以及数据采样间隔等）均由微机控制，自动完成测量；

 可实时显示采集到的数据与曲线，如：物质的磁滞回线、磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。
测量结果可以保存为数据文件，也可保存和打印微机屏幕显示结果界面；

 物质的各种磁特性参数诸如矫顽力、磁能积zui大值、剩磁和磁化率等均可直接给出；

 可原位测量磁性材料从液氮温区到 500℃温区的磁性能随温度的变化曲线（M-T）；

 可测量磁性薄膜材料的磁电阻（AMR、GMR）曲线（R-H）及霍尔效应曲线（V H -H）。

技术原理
  本测试系统以感应法为基础，将样品放置在稳定的磁场中，并使样品相对探测线圈做小幅度周期振动，可得到与被测样品磁矩成正比的信号，再将信号用适当的电子技术放大、检波转换成易于测量的电压信号，即可直接或通过数据处理得到材料的各项磁学参数。

技术参数
温度范围           液氮温区到 500℃连续变化（用户可选购）
磁矩量程范围       10 -3 emu ~ 100emu，zui高灵敏度优于 2.5 × 10 -5 emu
磁场可调范围       在 0~2.0T 可调，在低场条件下步进精度为 1Oe
锁相放大器灵敏度   从 2nV 到 1nV 共 27 档可调，时间常数从 10us 到 30s 共14 档可选
相对精度           优于 ± 1%，重复性优于 ± 1%
振动稳定性         预热 10 分钟，稳定性优于 0.01%

应用
应用材料
测量样品可为粉末、颗粒、薄膜、液体、块状等磁性材料

可测参数
 检测各类物质内禀磁特性，如磁化强度 Ms(σs)、居里温度 Tc、矫顽力 Hc、剩磁 Mr 等；

 可间接得出其他的有关技术磁参量，如：Bs、Br、(BH)max 和磁导率(包括初始磁导率)等；

 可根据回线的特点而判断被测样品的磁属性；

 能绘制磁滞回线、磁导率曲线、起始磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。